

2019年11月16日浦东国际人才发展中心联合艾新教育&茄子烩、泓准达科技有限公司共同打造“芯”人“芯”事系列之“芯片医生,为‘芯’保驾护航”主题沙龙,邀请产业专家探讨与交流芯片行业技术服务的核心技术与发展前景,揭秘中国“芯”背后的芯片医生。

背景及目的
近年来,由于国家大力推动集成电路行业高速发展,在设计、生产集成电路和装备制造的同时,产业环节中还需要一个重要的环节——技术服务。技术服务从集成电路的设计可制造性DFM,质量控制体系QMS,检验检测RA&FA,材料分析MA,功能测试ATE等多个角度,为集成电路产品的质量和性能保驾护航。
主题
芯片医生,为“芯”保驾护航
—— “芯”人“芯”事系列主题沙龙
本次沙龙计划邀请多位来自精密设备公司研发专家、芯片制造厂产品质量专家、第三方测试公司技术专家、芯片设计公司失效分析专家,围绕集成电路可靠性测试规范及应用,失效分析设备原理及发展等方面展开交流与分享。

概况
主办单位:浦东国际人才发展中心 承办单位:艾新教育&茄子烩协办单位:泓准达科技有限公司 |
流程
【13:00 — 13:30】
签到
【13:30 — 13:35】
主持人开场,嘉宾及主办方介绍
【13:35 — 13:50】
曹荣根博士致辞
【13:50 — 14:20】
赛默飞中国 唐涌耀
《EFA失效定位技术的发展及应用》
【14:20 — 14:50】
望友科技 刘久轩
《3D DFM仿真审查驱动电子制造高质高效变革发展》
【14:50 — 15:20】
泓准达科技 宋建波
《ESD测试标准与测试技术》
【15:20 — 15:30】
茶歇
【15:30 — 16:00】
谢志峰博士致辞
【16:00 — 16:30】
圆桌讨论:芯片医生,为“中国芯”保驾护航
(曹荣根博士主持)
邀请嘉宾
谢志峰

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曹荣根

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唐涌耀

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刘久轩

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宋建波

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活动小彩蛋
“芯片医生”曹荣根博士将于沙龙当天宣布启动《集成电路可靠性分析与失效分析手册》撰写工作并征集和邀请联合撰写人,书的主要内容包括:
1、可靠性分析基本理论和失效分析基本理论;
2、失效机理;
3、可靠性分析方法;
4、失效分析方法;
5、可靠性分析设备概述;
6、失效分析设备概述;
7、典型案例;
8、可靠性分析和失效分析Tips。
这本书的目的是为集成电路可靠性分析和失效分析工程师提供一本Handbook,帮助新的工程师了解和学习可靠性分析和失效分析。


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路线
轨交13号线学林路站3号口出
公交
1、浦东58路,哥白尼路中科路站下车,步行约5分钟至人才港北门进;
2、南川线,哥白尼路华夏中路站下车,步行约10分钟至人才港南门进。

停车指引图

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